ITC55100C 型號是最新一代的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)系列 ITC55100 測試儀。該系統(tǒng)是圍繞一個(gè)非常強(qiáng)大的微控制器設(shè)計(jì)的，它的時(shí)序分辨率為40ns，比前代型號快20倍。其對峰值和零電流的響應(yīng)時(shí)間提高了十倍。結(jié)合這一功能，可提高充電和雪崩時(shí)間以及報(bào)告的峰值排水電流的準(zhǔn)確性。

ITC55100C 型號具有雙極柵驅(qū)動器作為標(biāo)準(zhǔn)功能。用戶可以設(shè)置高達(dá) 30V 的總柵極驅(qū)動器，并可以選擇 30V 中有多少為正，有多少是負(fù)的。此功能可確保某些設(shè)備在雪崩期間保持狀態(tài)。

ITC55100C 執(zhí)行符合 MIL-STD-750E 方法 3470 的多種類型的測試。方法 3470 通過強(qiáng)調(diào) P 通道和 N 通道 MOSFET 和 IGBT 到受控能量水平來測試它們的能力。這是通過驅(qū)動未夾緊的電感負(fù)載的設(shè)備實(shí)現(xiàn)的。

?單/雙設(shè)備測試

? N 通道，P 通道，混合

? 所有固態(tài)開關(guān) ? 無繼電器

? 40ns 的時(shí)序分辨率

? 電流范圍：0.1A 至 200A，0.1A 步長

? 阿瓦蘭奇電壓至 2500V

? 雙極柵驅(qū)動，帶 30V 回轉(zhuǎn)

? 新的高效開爾文電路

? 傳統(tǒng)的 UIL 模式（通過 GPIB）

? 觸摸屏程序輸入/控制

? 波形捕獲/顯示

? 內(nèi)部測試程序存儲（20 個(gè)文件）

? 高速電感充電，縮短測試時(shí)間

? 可編程泄漏測試電壓

? 阿瓦蘭切前/后泄漏測試

? 阿瓦蘭奇坍塌測試

? 多功能測試處理程序控制

? 多達(dá) 15 個(gè)硬件排序箱

? 提高電壓/電流精度

? 通過閃存下載進(jìn)行軟件更新

? 參數(shù)輸入的密碼控制

? 使用所有 ITC 電感負(fù)載箱運(yùn)行

? 與 ITC55MUX4 和 ITC55-RSF 的接口

? 簡單、完整的用戶校準(zhǔn)

? 內(nèi)置自檢